使用说明

重采样是改变栅格数据集分辨率的操作，根据分辨率的变化可以分为上采样和下采样。上采样即单元格边长变小，单元格数量变多，下采样即单元格边长变大，单元格数量变少。在进行上采样时，当不确定边长的具体数值时，可指定等分数目对栅格的边长进行等分，如 2 等分栅格，4 等分栅格，6 等分栅格等，这个过程就叫做等分重采样。

如上图所示，右侧的栅格就是将左侧栅格的边长进行 2 等分重采样所得到的结果。

使用场景

如30m分辨率的经纬度坐标系栅格，要重采样为10m，但是经纬度数据需要将单元格的大小转换为度，这时会遇到无法整除的情况，只能精确到小数点的后几位。使用等分重采样，便能解决人工计算米转度填写不精确的问题。

参数说明

参数名	默认值	参数释义	参数类型
待分析RDD		需要进行重采样的RasterRDD。	RasterRDD
等分数目	2	对栅格边长的等分数值，数值必须大于1	Int
重采样方式	最邻近法	重采样方法，包括最邻近法, 双线性内插法, 三次卷积内插法, 三次样条插值法, Lanczos法,平均值法，详细介绍可参考【重采样】工具。	JavaResampleMethod